解析サービス

ANALYSIS SERVICE解析サービス

解析サービス

液晶ディスプレイをはじめとする電子デバイスをお取り扱いされているお客様(B to B)へ、製品の不具合箇所を特定する解析サービスをご提供しています。
当社スタッフは、不具合の解析対応や原因の特定について、20年以上にわたる実績や液晶取り扱いの経験もございます。ぜひご安心いただき、当社へお任せください。

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液晶ディスプレイに関する豊富な知識、経験とノウハウを持つ専門スタッフが、種々の機器を駆使し、高度で迅速・的確な解析を行い不具合発生部材の特定を行います。

液晶ディスプレイに関する豊富な知識、経験とノウハウを持つ専門スタッフが、種々の機器を駆使し、高度で迅速・的確な解析を行い不具合発生部材の特定を行います。

分析項目の例

区分 項目 日程の目安
(製品到着後)
確認項目(例) 目視による製品の外観確認
駆動回路を用いた点灯確認
3日
テスターによる電圧・電流・抵抗測定
光学顕微鏡による駆動回路の接続部確認
サーモグラフィによる発熱確認
X線によるプリント基板などの断線確認
5日
オシロスコープによる搭載部品の特性確認 7日
レポート作成 9日
成分分析、再現実験、検証実験 14日
  • 一次解析
    • 外観異常確認
    • 点灯異常確認
  • 二次解析
    • 電気特性解析
    • 解体 接続部確認
  • 分析・評価
    • 成分分析
    • 非破壊検査、再現検証
  • 三次解析
    • 搭載品の出力波形確認
    • 部材加工での原因特定

サービスの流れ

  1. mail

    お問い
    合わせ

  2. task

    お見積り

  3. web_traffic

    ご発注

  4. query_stats

    解析・分析

  5. description

    レポート
    報告

  6. credit_score

    お支払い

お問い合わせ先

シャープジャスダロジスティクス株式会社
デバイスソリューション推進部

電話:050-5444-7706
メール:device-square@mail.sharp ※またはお問い合わせフォームよりご連絡ください
営業時間:10:00~16:00(定休日:土日祝日、当社規定に準じる休日)

お問い合わせフォーム

お問い合わせの際に必要な情報

  • 不具合の症状の写真(動画も可)
  • 不具合発生時の状況(発生したタイミング、使用期間、場所、気候など)

その他、詳細はお問い合わせ時に確認させていただきます。

当社で使用する解析機器

No. 装置名称 用途
1 CNC画像測定システム 非接触により各寸法を精密に測定する装置
2 マイクロフォーカスX線装置 非破壊検査にて対象物を透視確認できる装置
3 3Dリアルサーフェスビュー 無機物の成分分析を行う装置
4 輝度測定装置 LCDの色度・輝度測定を行う装置
5 成分分析装置(FTIR) 有機物の成分分析を行う装置
6 実体顕微鏡 低倍率で観察する場合の顕微鏡
7 デジタルマイクロスコープ 高倍率で明視野照明で拡大観察するための顕微鏡
8 光学顕微鏡 顕微鏡画像の撮影および観察を行う装置(微分干渉付)
9 赤外線サーモグラフィ SMT実装部品、接続、パネルの発熱状態を確認する装置
10 マニュアルプローブ装置
オシロスコープ
IC出力波形を取得する前準備
(JAS膜除去:レーザーカット)
11 静電気試験器 0.2kV~30kVの印加可能(人体、マシンモデル)
12 恒温槽(低温、高温) -30~95℃のストレス試験

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